Cognex  Corp., el proveedor principal de sistemas de visión artificial, ha introducido su nueva generación de lectores  de identificación de wafer  y el software de acompañamiento,  In-Sight ®  serie 1740  y  el software de Identificación de wafer In-Sight Explorer I versión 4.5.0. La nueva familia de producto incluye características  diseñadas para mejorar tanto la velocidad  de lectura y la confiabilidad, mientras hace  más fácil el configurar y mantener al lector en una amplia variedad de instrumentos de proceso y manejo de wafer. Combinadasestas características  a  aseguran el tiempo de funcionamiento máximo de la heramienta, ininterrumpido por la necesidad de la intervención humana en el paso de identificación del wafer.

Con más poder de procesamiento,los lectores de wafer In-sight serie 1740   reducen el tiempo de lectura típico en un 40 %. La velocidad de procesamiento más rápida también ayuda a los lectores In-Sight serie 1740  a aprovechar  las nuevas características de de auto optimización. Estas nuevas características  pueden aumentar dramáticamente la velocidad de lectura  y la confiabilidad en  las marcas ID más difíciles de leer  r asegurando  sin problemas, la operación desatendida.

Los lectores  In-Sight serie 1740  también incluyen un sistema de iluminación superior, integrado. Los lectores  In-sight de Cognex serie 1720 lfueron considerados buenos por su sistema de iluminación interno que produce la legibilidad alta de imágenes de campo brillantes. El In-Sight serie 1740  hace de  este sistema de iluminación mejor en su clase aún mejor debido a una fila incorporada de LEDs externos que entregan imágenes de alto contraste de las marcas de ID de  muchos tipos de wafer  . Más,  como   nuevos tipos de capas de proceso de wafer son desarrollados, el lector In-Sight 1740 puede ser ampliado para  nuevos desafíos de imágenes con  la iluminación especializada impulsada por el puerto de extensión ligero externo.

“La serie de In-Sight 1740  mejora aún más a una familia de productos que fue  considerada  ser el estándar en la industria de semiconductores para lectores de wafer,” dijo Bhaskar Banerjee, Gerente de Unidad Comercial para los Sistemas de visión Cognex. “Los nuevos sistemas ofrecen varias mejoras para superar degradaciones visuales del  wafer como el  filtrado automático de la imagen   — un beneficio que sólo Cognex ofrece.”

Cognex In-Sight1740 Series lectores de Wafer ID/pagina 2

El nuevo In-Sight serie 1740  es 100 %  compatible. Con las  mismas dimensiones, el patrón de agujeros de montaje y el conjunto de comandos a distancia , Los lectores  In-Sight  serie 1740  pueden ser usados en cualquier lugar donde los lectores  In-Sight serie 1720  son usados hoy.

El nuevo software  In-Sight Explorer Wafer ID , versión 4.5.0, incluye nuevas herramientas:

• Filtros automáticos de mejora  de imagen  para superar degradaciones visuales. En los casos más severos, los filtros de realce son capaces de convertir las fallas de lectura en una lectura del éxito, sin la necesidad de la intervención humana.
• Soporte mejorado para wafers  de 300 mm. Siguiendo el  estándar SEMI M1.15, cada wafer  de 300 mm presenta tanto un código Data Matrix  T7 como una marca  OCR. El nuevo software 4.5.0 de Cognex mejora la interpretación de lectura sobre marcas  SEMI M1.15por primer  intento  de leer el código T7 usando la tecnología patentada   Cognex IDMax ® . La marka OCR será usada como  reserva si el código  T7 es demasiado degradado por el proceso. La confiabilidad máxima es asegurada, y el lector es más fácil de  mantener porque menos configuraciones son requeridas.
  

Los lectores de ID de wafer In-Sight serie  1740 de Cognex series wafer ID lectores ya están disponibles. Para más información, visite www.cognex.com/waferID.